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1.
一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法
崔伟,冯建华,叶红飞,闫鹏
北京大学学报（自然科学版）
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提出一种基于环路(Loopback)测试的内建自测试(BIST)方法。为了基于环路结构的内建自测试, 设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试(BIST)电路RF收发器的测试结果表明, 此方法能够正确检测出系统故障, 可以应用于生产测试, 并能减少测试时间和测试成本。
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一种基于累积分布函数的抖动测量方法
郭健,冯建华,叶红飞
北京大学学报（自然科学版）
